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ddr数据线阻抗是多少,ddr3做嵌入式设计在信号线控制线上是否可以不串联2030欧的匹

来源:整理 时间:2023-03-10 03:23:01 编辑:亚灵电子网 手机版

1,ddr3做嵌入式设计在信号线控制线上是否可以不串联2030欧的匹

是的,我就没采用过那种方法,直接在走线上设计阻抗,通过叠层、走线宽度和铜箔厚度来共同达到阻抗,一般控制50OHM左右,地址线和数据线等长设计。注意时序。
应该不是吧。

ddr3做嵌入式设计在信号线控制线上是否可以不串联2030欧的匹

2,DDR3 PCB那些线需要做阻抗匹配多少欧姆是差分还是单线

1、需要做阻抗匹配的线:数据/地址线;2、具体需要多少欧姆的电阻,要看布线和时序要求;3、不需要走差分线,只需要做等长处理。

DDR3 PCB那些线需要做阻抗匹配多少欧姆是差分还是单线

3,小第开始从事设计PCB高速板请教大虾DDR走线阻抗等问题

专业解答:汗,你这种问题很值钱的,先不说10分,就是给钱别人不一定愿意回答。简单回答你吧:1:阻抗由驱动芯片决定,你不是主板设计,看你是一些嵌入式小板卡,这种一般要求也低,不需要这么严格。2:DDR布线等长即可,先布DDR,其他的后面再设计。

小第开始从事设计PCB高速板请教大虾DDR走线阻抗等问题

4,小第开始从事设计PCB高速板请教大虾DDR走线阻抗等问题

专业解答:汗,你这种问题很值钱的,先不说10分,就是给钱别人不一定愿意回答。简单回答你吧:1:阻抗由驱动芯片决定,你不是主板设计,看你是一些嵌入式小板卡,这种一般要求也低,不需要这么严格。2:DDR布线等长即可,先布DDR,其他的后面再设计。

5,DDR内存旁边的排阻和电容起什么作用

接VDD的排阻是用于信号终结的终结排阻,防止信号反弹的,也叫提压排阻。接北桥的叫衰减排阻,串在北桥和内存槽之间。
排阻只有DDR的有..一边接内存的数据线..一边接上拉供电.DDR一代的上拉是1.25V..DDR二代的是0.9V,,,这样做用于提高信号的幅度..提高它的抗干扰能力.这些排阻叫上拉排阻.
供电部分一般是单个贴片电阻,一般用排阻的少见,我不知道有没有。
GIP G 我一直在找DDRII的VTT是多少,嘿嘿,谢谢兄弟了。
常见的是560的排组一端接内存的AD线,一端接1.25V。小电容就是滤波作用。。
想知道一般情况下 这些排阻 排容 容易坏吗

6,在DDR的PCB布线中提到数据线可以分组等长各组之间可以不等长那怎样

一位同事讲:但是有一个比较值,就是CLK的长度要大于address,address要大于data(may be wrong)。 同组间相等。组间的差别不能大于10mm。 有网友表示,DDR数据线用DQS来锁存,因此要保持等长。地址、控制线用时钟来锁存,因此需要和时钟保持一定的等长关系,一般等长就没有什么问题。阻抗方面,一般来说DDR需要60欧姆,DDR2需要50欧姆,走线不要打过孔,避免阻抗不连续。串扰方面,只要拉开线距,一层信号一层地,就不会出问题。也有网友表示他们模拟DDR2的结果:时钟对线长误差小于0.5mm;最大长度小于57mm;时钟线与相对地址线的长度差小于10mm。 李宝龙表示,无论是PCB上使用芯片还是采用DIMM条,DDR和DDRx(包括DDR2,DDR4等)相对与传统的同步SDRAM的读写,主要困难有三点:第一,时序。由于DDR采用双沿触发,和一般的时钟单沿触发的同步电路相比,在时序计算上有很大不同。DDR之所以能实现双边沿触发,其实是在芯片内部做了时钟的倍频,对外看起来,数据地址速率和时钟一样。为了保证能够被判决一组信号较小的相差skew,DDR对数据DQ信号使用分组同步触发DQS信号,所以 DDR上要求时序同步的是DQ和DQS之间,而不是一般数据和时钟之间。另外,一般信号在测试最大和最小飞行时间Tflight时,使用的是信号沿通过测试电平Vmeas与低判决门限Vinl和和高门限Vinh之间来计算,为保证足够的setup time和hold time,控制飞行时间,对信号本身沿速度不作考虑。而DDR由于电平低,只取一个中间电平Vref做测试电平,在计算setup time和hold time时,还要考量信号变化沿速率slew rate,在计算setup time和hold time时要加上额外的slew rate的补偿。这个补偿值,在DDR专门的规范或者芯片资料中都有介绍。第二,匹配。DRR采用SSTL电平,这个特殊buffer要求外接电路提供上拉,值为30~50ohm,电平VTT为高电平一半。这个上拉会提供buffer工作的直流电流,所以电流很大。此外,为了抑制反射,还需要传输线阻抗匹配,串连电阻匹配。这样的结果就是,在DDR的数据信号上,两端各有10~22ohm的串连电阻,靠近DDR端一个上拉;地址信号上,发射端一个串连电阻,靠近DDR端一个上拉。第三,电源完整性。DDR由于电平摆幅小(如SSTL2为2.5V,SSTL1为1.8V),对参考电压稳定度要求很高,特别是Vref和VTT,提供DDR时钟的芯片内部也常常使用模拟锁相环,对参考电源要求很高;由于VTT提供大电流,要求电源阻抗足够低,电源引线电感足够小;此外,DDR同步工作的信号多,速度快,同步开关噪声比较严重,合理的电源分配和良好的去耦电路十分必要。1.CLK等长长度为X,最长的和最短的相差不超过25mils2.DQS长度为Y,和CLK比对,Y要在[X-1000,X+1000mils]这个区间3.DM、DATA长度为Z,和各组的DQS比对,Z要在[Y-25,Y+25mils]区间里面4.A/C信号(control & command信号)长度为K,和CLK比对,K要在[X-1500,X+2000mils]范围内5.阻抗控制:DQ DQS DM CONTROL COMMAND CLK阻抗为55ohm±15%即(47--63ohm)1.走线分组 ARM系统中内存一般为32位或者16位,通常使用一片或者两片内存芯片组成。可以将数据线分成一组,两组或者4组。 一组的分法:DATA0-31,DQS0-3,DQM0-3作为一组; 两组的分法:DATA0-15,DQS0-1,DQM0-1为一组,DATA16-31,DQS2-3,DQM2-3为一组; 四组的分法:DATA0-7,DQS0,DQM0为一组,DATA8-15,DQS1,DQM1为一组,DATA16-23,DQS2,DQM2为一组,DATA23-32,DQS3,DQM3为一组。 具体分几组,可以根据芯片数量和走线密度来确定。布线的时候,同一组的信号线必需要走在同一层。剩下是时钟信号,地址信号和其它的控制信号,这些信号线为一组。这组信号线尽量在同一层布线2.等长匹配 a. DDR的DATA0-31,DQS0-3,DQM0-3全部等长匹配,不管分为一组还是两组或四组。误差控制在25mil。可以比地址线长,但不要短。 b. 时钟信号,地址信号和其它的控制信号全部等长匹配,误差控制在50mil。另外如果是DDR时钟,要按照差分线要求来走线,两条时钟线的长度要控制在2.5mil的误差内,并且尽量减小非耦合的长度。时钟线可以比地址和其它信号线长20-50mil。3.间距 间距的控制要考虑阻抗要求和走线的密度。通常采用的间距原则是1W或者3W。如果有足够的空间来走线,可以将数据线按3W的间距来走,可以减小很多串扰。如果实在不行至少要保证1W的间距。除此之外,数据线与其它信号线的间距至少要有3W的间距,如果能更大则更好。时钟与其它的信号线的间距至少也要保持 3W,并尽可能的大。绕线的间距也可以采用1W和3W原则,应优先用3W原则。

7,DDR VTT电阻误差在多少才算正常

一定要用指针万用表(因为是叠加电路)测量上拉电阻对地阻值,对地阻值误差在8欧姆以内为正常,否则Intel芯片组的板是北桥开路空焊,AMD Cpu的板就是CPU插座接触不良、空焊
看看你的桥吧。有时候C1不过一般的方法都排除的话也有可能是桥的问题了。
如果不过内存 DDR 主供电2.5V----2.6V左右 VTT负载电压 是主供电的一半 DDR2 主供电1.8V左右 负载电压 主供电的一半 DDR3 主供电1.5V 负载电压 主供电的一半 看电压是否正常,如果供电正常,打对地阻值,需要打靠近北桥的排阻 靠近北桥的那一端 遇到阻值大的!更换排阻尚可 , 装上CPU打值一次 就是打值 CPU 到内存的另一边的排阻位置 两排电阻 就是串联的关系 两头都接地了 不装CPU打值一次 就是打值排阻到另一边排阻的的中间有问题。 DDR2 就用打值卡打值。
查一下91 92角 是否有3.3v 或者2.5v 如果这两线有问题,也会引起内存不过。这两条线是通向南桥的。
那要看你是用什么表打阻值了,如果是数字万用表的话不能超过5欧,最好是用指针万用表,因为那打阻值最精确
知道的人,麻烦解释一下 每次C1都会闪一下才报警,感觉在找内存,不知道是找不到还是读取不了就报警了

8,DDR400 Layout准则

1.时钟信号(1) 差分布线,差分阻抗100欧姆,差分线误差±5mil。(2) 与其它信号的间距要大于25mil,而且是指edge to edge的间距(3) CLK等长,误差±10mil。2.数据信号:(1) 数据信号分为八组,每组单独分开走线,第一组为DDR_DQ[0:7]、DDR_DQSP0、DDR_DQSN0、DDR_DQM0,以此类推,同组信号在同一层走线。(2) DQ和DQM为点对点布线,(3) DQS为差分布线。差分线误差±5mil,差分阻抗100欧姆。(4) 组内间距要大于12mil,而且是指edge to edge的间距,同组内DQ与DQM以DQS为基准等长,误差±5mil。(5) DQS与DDR2_CLKP等长,误差±5mil。(6) 不同组信号间距:大于20mil(edge to edge的间距)(7) DDR_CKN/P之间的并联100欧姆电阻,需要放置在信号一分二的分叉地方(8) 尽可能减少过孔(9) 叠层设计的时候,最好将每一层阻抗线宽,控制在差不多宽度(10) 信号走线长度,不超过2500mil3.控制信号和地址信号:(1) 组内间距要大于12mil,而且是指edge to edge的间距(2) 所有控制线须等长,误差±10mil。(3 不同组信号间距:大于20mil(edge to edge的间距)4.其它信号DDR_VREF走线宽度20mil以上。
设计之前需要查看该ddr芯片的手册,清楚哪些信号需要等长或者阻抗设计。然后通过polar等仿真软件计算阻抗线宽和间距,一般是控制90ohm阻抗。

9,DDR1和DDR2的分别

DDR2与DDR的区别: 在了解DDR2内存诸多新技术前,先让我们看一组DDR和DDR2技术对比的数据。 1、延迟问题: 从上表可以看出,在同等核心频率下,DDR2的实际工作频率是DDR的两倍。这得益于DDR2内存拥有两倍于标准DDR内存的4BIT预读取能力。换句话说,虽然DDR2和DDR一样,都采用了在时钟的上升延和下降延同时进行数据传输的基本方式,但DDR2拥有两倍于DDR的预读取系统命令数据的能力。也就是说,在同样100MHz的工作频率下,DDR的实际频率为200MHz,而DDR2则可以达到400MHz。 这样也就出现了另一个问题:在同等工作频率的DDR和DDR2内存中,后者的内存延时要慢于前者。举例来说,DDR 200和DDR2-400具有相同的延迟,而后者具有高一倍的带宽。实际上,DDR2-400和DDR 400具有相同的带宽,它们都是3.2GB/s,但是DDR400的核心工作频率是200MHz,而DDR2-400的核心工作频率是100MHz,也就是说DDR2-400的延迟要高于DDR400。 2、封装和发热量: DDR2内存技术最大的突破点其实不在于用户们所认为的两倍于DDR的传输能力,而是在采用更低发热量、更低功耗的情况下,DDR2可以获得更快的频率提升,突破标准DDR的400MHZ限制。 DDR内存通常采用TSOP芯片封装形式,这种封装形式可以很好的工作在200MHz上,当频率更高时,它过长的管脚就会产生很高的阻抗和寄生电容,这会影响它的稳定性和频率提升的难度。这也就是DDR的核心频率很难突破275MHZ的原因。而DDR2内存均采用FBGA封装形式。不同于目前广泛应用的TSOP封装形式,FBGA封装提供了更好的电气性能与散热性,为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了良好的保障。 DDR2内存采用1.8V电压,相对于DDR标准的2.5V,降低了不少,从而提供了明显的更小的功耗与更小的发热量,这一点的变化是意义重大的。 DDR2采用的新技术: 除了以上所说的区别外,DDR2还引入了三项新的技术,它们是OCD、ODT和Post CAS。 OCD(Off-Chip Driver):也就是所谓的离线驱动调整,DDR II通过OCD可以提高信号的完整性。DDR II通过调整上拉(pull-up)/下拉(pull-down)的电阻值使两者电压相等。使用OCD通过减少DQ-DQS的倾斜来提高信号的完整性;通过控制电压来提高信号品质。 ODT:ODT是内建核心的终结电阻器。我们知道使用DDR SDRAM的主板上面为了防止数据线终端反射信号需要大量的终结电阻。它大大增加了主板的制造成本。实际上,不同的内存模组对终结电路的要求是不一样的,终结电阻的大小决定了数据线的信号比和反射率,终结电阻小则数据线信号反射低但是信噪比也较低;终结电阻高,则数据线的信噪比高,但是信号反射也会增加。因此主板上的终结电阻并不能非常好的匹配内存模组,还会在一定程度上影响信号品质。DDR2可以根据自已的特点内建合适的终结电阻,这样可以保证最佳的信号波形。使用DDR2不但可以降低主板成本,还得到了最佳的信号品质,这是DDR不能比拟的。 Post CAS:它是为了提高DDR II内存的利用效率而设定的。在Post CAS操作中,CAS信号(读写/命令)能够被插到RAS信号后面的一个时钟周期,CAS命令可以在附加延迟(Additive Latency)后面保持有效。原来的tRCD(RAS到CAS和延迟)被AL(Additive Latency)所取代,AL可以在0,1,2,3,4中进行设置。由于CAS信号放在了RAS信号后面一个时钟周期,因此ACT和CAS信号永远也不会产生碰撞冲突。
ddr和ddr2在同一频率下ddr2 的处理速度快 drr最高的频率只有400 ddr2最高的有800 所以性能上绝对是ddr2好
第一。封装方式不一样,DDR2是240PIN DDR为184PIN 第二。供电不一样 DDR2 用的1.8V DDR1是2.5V 第三 工作频率不一样 DDR1 为266~400 DDR2 为533~800 第四 价钱还不一样
频率不一样,显存颗粒不一样,速度不一样,当然价格也不一样。 区别DDR比DDR2稍微短2厘米,中间凹下去的部分DDR在中间,DDR2在旁边点
频率,延迟都不一样
第一接口不同,第二,电压不同,DDR1是2.5V,DDR2是1.8V;第三频率不同,DDR1代最高频率是400MHZ,DDR2最低频率是从553开始的。
内存频率不一样

10,关于电脑的DDRDDR1DDR2是什么

内存分SD和DDR类型 DDR1-DDR2是同一个类型但不是一个型号一代和2代,有分别滴 不过有过度主板支持两种类型。选择双内存,再主板支持双通道情况下(目前大部分都支持)最好选则同品牌同型号内存。
其实就是内存的第一代和第二代!这样好理解!下面内容为专业术语解释!可以参考下! DDR2与DDR的区别 与DDR相比,DDR2最主要的改进是在内存模块速度相同的情况下,可以提供相当于DDR内存两倍的带宽。这主要是通过在每个设备上高效率使用两个DRAM核心来实现的。作为对比,在每个设备上DDR内存只能够使用一个DRAM核心。技术上讲,DDR2内存上仍然只有一个DRAM核心,但是它可以并行存取,在每次存取中处理4个数据而不是两个数据。 DDR2与DDR的区别示意图 与双倍速运行的数据缓冲相结合,DDR2内存实现了在每个时钟周期处理多达4bit的数据,比传统DDR内存可以处理的2bit数据高了一倍。DDR2内存另一个改进之处在于,它采用FBGA封装方式替代了传统的TSOP方式。 然而,尽管DDR2内存采用的DRAM核心速度和DDR的一样,但是我们仍然要使用新主板才能搭配DDR2内存,因为DDR2的物理规格和DDR是不兼容的。首先是接口不一样,DDR2的针脚数量为240针,而DDR内存为184针;其次,DDR2内存的VDIMM电压为1.8V,也和DDR内存的2.5V不同。 DDR2的定义: DDR2(Double Data Rate 2) SDRAM是由JEDEC(电子设备工程联合委员会)进行开发的新生代内存技术标准,它与上一代DDR内存技术标准最大的不同就是,虽然同是采用了在时钟的上升/下降延同时进行数据传输的基本方式,但DDR2内存却拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力(即:4bit数据读预取)。换句话说,DDR2内存每个时钟能够以4倍外部总线的速度读/写数据,并且能够以内部控制总线4倍的速度运行。 此外,由于DDR2标准规定所有DDR2内存均采用FBGA封装形式,而不同于目前广泛应用的TSOP/TSOP-II封装形式,FBGA封装可以提供了更为良好的电气性能与散热性,为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了坚实的基础。回想起DDR的发展历程,从第一代应用到个人电脑的DDR200经过DDR266、DDR333到今天的双通道DDR400技术,第一代DDR的发展也走到了技术的极限,已经很难通过常规办法提高内存的工作速度;随着Intel最新处理器技术的发展,前端总线对内存带宽的要求是越来越高,拥有更高更稳定运行频率的DDR2内存将是大势所趋。 DDR2与DDR的区别: 在了解DDR2内存诸多新技术前,先让我们看一组DDR和DDR2技术对比的数据。 1、延迟问题: 从上表可以看出,在同等核心频率下,DDR2的实际工作频率是DDR的两倍。这得益于DDR2内存拥有两倍于标准DDR内存的4BIT预读取能力。换句话说,虽然DDR2和DDR一样,都采用了在时钟的上升延和下降延同时进行数据传输的基本方式,但DDR2拥有两倍于DDR的预读取系统命令数据的能力。也就是说,在同样100MHz的工作频率下,DDR的实际频率为200MHz,而DDR2则可以达到400MHz。 这样也就出现了另一个问题:在同等工作频率的DDR和DDR2内存中,后者的内存延时要慢于前者。举例来说,DDR 200和DDR2-400具有相同的延迟,而后者具有高一倍的带宽。实际上,DDR2-400和DDR 400具有相同的带宽,它们都是3.2GB/s,但是DDR400的核心工作频率是200MHz,而DDR2-400的核心工作频率是100MHz,也就是说DDR2-400的延迟要高于DDR400。 2、封装和发热量: DDR2内存技术最大的突破点其实不在于用户们所认为的两倍于DDR的传输能力,而是在采用更低发热量、更低功耗的情况下,DDR2可以获得更快的频率提升,突破标准DDR的400MHZ限制。 DDR内存通常采用TSOP芯片封装形式,这种封装形式可以很好的工作在200MHz上,当频率更高时,它过长的管脚就会产生很高的阻抗和寄生电容,这会影响它的稳定性和频率提升的难度。这也就是DDR的核心频率很难突破275MHZ的原因。而DDR2内存均采用FBGA封装形式。不同于目前广泛应用的TSOP封装形式,FBGA封装提供了更好的电气性能与散热性,为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了良好的保障。 DDR2内存采用1.8V电压,相对于DDR标准的2.5V,降低了不少,从而提供了明显的更小的功耗与更小的发热量,这一点的变化是意义重大的。 DDR2采用的新技术: 除了以上所说的区别外,DDR2还引入了三项新的技术,它们是OCD、ODT和Post CAS。 OCD(Off-Chip Driver):也就是所谓的离线驱动调整,DDR II通过OCD可以提高信号的完整性。DDR II通过调整上拉(pull-up)/下拉(pull-down)的电阻值使两者电压相等。使用OCD通过减少DQ-DQS的倾斜来提高信号的完整性;通过控制电压来提高信号品质。 ODT:ODT是内建核心的终结电阻器。我们知道使用DDR SDRAM的主板上面为了防止数据线终端反射信号需要大量的终结电阻。它大大增加了主板的制造成本。实际上,不同的内存模组对终结电路的要求是不一样的,终结电阻的大小决定了数据线的信号比和反射率,终结电阻小则数据线信号反射低但是信噪比也较低;终结电阻高,则数据线的信噪比高,但是信号反射也会增加。因此主板上的终结电阻并不能非常好的匹配内存模组,还会在一定程度上影响信号品质。DDR2可以根据自已的特点内建合适的终结电阻,这样可以保证最佳的信号波形。使用DDR2不但可以降低主板成本,还得到了最佳的信号品质,这是DDR不能比拟的。 Post CAS:它是为了提高DDR II内存的利用效率而设定的。在Post CAS操作中,CAS信号(读写/命令)能够被插到RAS信号后面的一个时钟周期,CAS命令可以在附加延迟(Additive Latency)后面保持有效。原来的tRCD(RAS到CAS和延迟)被AL(Additive Latency)所取代,AL可以在0,1,2,3,4中进行设置。由于CAS信号放在了RAS信号后面一个时钟周期,因此ACT和CAS信号永远也不会产生碰撞冲突。 总的来说,DDR2采用了诸多的新技术,改善了DDR的诸多不足,虽然它目前有成本高、延迟慢能诸多不足,但相信随着技术的不断提高和完善,这些问题终将得到解决
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