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晶振怎么测试频率是多少,如何判断晶振的频率

来源:整理 时间:2023-09-28 23:48:22 编辑:亚灵电子网 手机版

1,如何判断晶振的频率

如果印有频率数可以看出。没有只能通过测试
晶体频率在生产过程中已经确定,只能通过外部电路调节

如何判断晶振的频率

2,如何测晶振在电路中的工作频率

有以下几种方法:1、用带频率计的数字万用表2、用频率计3、用数字示波器以上几种方法都是直接测量,其中用万用表测量较简便当然,用万用表测量时晶振的频率要在万用表的量程范围内才行

如何测晶振在电路中的工作频率

3,如何准确测得晶振的频率

接入晶振工作电路,工作状态下用频率计测试就可得到准确的频率了
用万用表是难以准确判断晶振是否起振的,我在笔记本上遇到过晶振两脚电压相等,但用示波器测正常的。至于晶振频率可以搭个简单电路来测,但要有频率计配合,所以用示波器来测才是最合理的选择。
就看你需要的是什么程度的准确。注意准确的是使用专业的检测设备:美国250B和科研KH1240网络分析仪测试,可以测试很多数据(可以测试单体)。 测基本的振动波形就用示波器测试就好了(必须在路测试)。测是否起振就用万用表测试两端电压(必须在路测试)。

如何准确测得晶振的频率

4,怎么用示波器测量四角无源晶振的频率

探头夹子接地,针尖测晶振输出端探头记得要用10X的,1X的可能会导致晶振停振调节示波器的垂直档位和时基,使波形至少一个周期完整显示于屏幕中,如下图所示此晶振频率为25MHz
示波器负探头接地,正探头接晶振的正端,示波器会有相关频率的正弦波和频率值。示波器是一种用途十分广泛的电子测量仪器。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图像,便于人们研究各种电现象的变化过程。示波器利用狭窄的、由高速电子组成的电子束,打在涂有荧光物质的屏面上,就可产生细小的光点(这是传统的模拟示波器的工作原理)。在被测信号的作用下,电子束就好像一支笔的笔尖,可以在屏面上描绘出被测信号的瞬时值的变化曲线。利用示波器能观察各种不同信号幅度随时间变化的波形曲线,还可以用它测试各种不同的电量,如电压、电流、频率、相位差、调幅度等等。
不能用示波器来测试无缘晶振。因为无源晶振是依靠与之匹配的外部电容来辅助起振的,且电容大小也是 pf 级的,该电容大小直接影响晶振的起振及稳定性。示波器自身及示波器探头都具备几十 pf 的输入电容,肯定会影响无源晶振工作,建议是根据datasheet来选型

5,如何用数字示波器测量晶振的输出频率谢谢

示波器电容对晶振频率影响很大,测得数据基本没什么参考价值,不过x10档比x1档相对好一点。
直接测量即可,示波器用x10档,探头打到10:1,夹子接地,探头直接测量晶振的输出即可,2个脚频率是一样的,只是幅度不一样~
示波器晶振测量的操作还是比较容易的首先晶振对电容负载较敏感,当使用×1挡时,探头电容相对较大,相当于一个很重的负载并联在晶振电路中,很容易使其停止振荡,因此我们使用10X档的探头更佳。我们将示波器通道设置为交流耦合,10X档位。确保晶振主板上电运行后,拔掉探头的套子,露出探针。将探头夹子接到主板地线即供电负极端,探针针尖接触到晶振的其中一个引脚。调节示波器的垂直档位和时基,使波形至少一个周期完整显示于屏幕中,如下图所示此晶振频率为25MHz另外,晶振的输出边沿一般比较陡,上升时间较短,因为晶振的输出中包含了较多的高频分量,因此应该将其当作高频信号来看待。探头×1挡的带宽有限制,而探头×10挡是全带宽开启的,因此必须选用×10挡进行测量。
可以直接测量,探头接地夹子接在MCU的接地端,探头探针直接测试晶体的任一一个引脚即可。两个引脚的幅度不太一样,但频率一样。
可以直接测量,探头接地夹子接在MCU的接地端,探头探针直接测试晶体的任一一个引脚即可。两个引脚的幅度不太一样,但频率一样。

6,如何测量晶振的电阻和频率

晶振的电阻很大;一般不用测量;测量晶振的频率 ;可以用扫频仪。
测量晶振的负载谐振频率有很多种方法,其中一种就是直接阻抗法,它使用网络分析仪,比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。下面介绍的是如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。 在晶振参数测量中,由于Fs和Fr阻抗相对较低,按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难,对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题,特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高,用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度,一般来说这样的要求不切实际,成本太高。所以后来又出现几种新的测量方法,如计算法、物理负载电容法等,这些方法设计用于测量低阻抗晶振,这样就可使用低精度设备。我们下面先对各种方法作一比较。 负载谐振频率测量法,如果已经知道被测器件是一个线性晶振,则可以使用这个方法来测量;但在大多数场合下,需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的,所以计算法不实用,除非你在测试前已经知道晶振是线性的。
测量晶振的负载谐振频率有很多种方法,其中一种就是直接阻抗法,它使用网络分析仪,比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。下面介绍的是如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。 在晶振参数测量中,由于Fs和Fr阻抗相对较低,按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难,对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题,特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高,用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度,一般来说这样的要求不切实际,成本太高

7,单片机的晶振频率怎么确定

根据使用需要确定,举例:如果要产生标准的串口波特率,应使用11.0592MHz,如果要让51单片机产生整数的时钟频率可使用12MHz或者24MHz单片机。另外根据单片机本身的参数,不要选择过高的频率,否则会工作不稳定。举例:Atmega8L-8PU,这个单片机后面一个8的意思就是建议最大工作频率不要超过8MHz,如果超过8MHz不大于16MHz,可以选用Atmega8L-16PU。从内存中取出一条指令,并指出下一条指令在内存中的位置。对指令进行译码和测试,并产生相应的操作控制信号,以便于执行规定的动作。指挥并控制CPU、内存和输入输出设备之间数据流动的方向。PC用于确定下一条指令的地址,以保证程序能够连续地执行下去,因此通常又被称为指令地址计数器。在程序开始执行前必须将程序的第一条指令的内存单元地址(即程序的首地址)送入PC,使它总是指向下一条要执行指令的地址。扩展资料:在恒定的环境条件下测量振荡器频率时,振荡器频率和时间之间的关系。这种长期频率漂移是由晶体元件和振荡器电路元件的缓慢变化造成的,可用规定时限后的最大变化率(如±10ppb/天,加电72小时后),或规定的时限内最大的总频率变化(如:±1ppm/(第一年)和±5ppm/(十年))来表示。基准电压为+2.5V,规定终点电压为+0.5V和+4.5V,压控晶体振荡器在+0.5V频率控制电压时频率改变量为-110ppm,在+4.5V频率控制电压时频率改变量为+130ppm,则VCXO电压控制频率压控范围表示为:≥±100ppm(2.5V±2V)。高精度与高稳定度,无补偿式晶体振荡器总精度也能达到±25ppm,VCXO的频率稳定度在10~7℃范围内一般可达±20~100ppm,而OCXO在同一温度范围内频率稳定度一般为±0.0001~5ppm,VCXO控制在±25ppm以下。参考资料来源:百度百科--晶体振荡器参考资料来源:百度百科--单片机
根据使用需要确定,举例:如果要产生标准的串口波特率,应使用11.0592MHz,如果要让51单片机产生整数的时钟频率可使用12MHz或者24MHz单片机。另外根据单片机本身的参数,不要选择过高的频率,否则会工作不稳定。举例:Atmega8L-8PU,这个单片机后面一个8的意思就是建议最大工作频率不要超过8MHz,如果超过8MHz不大于16MHz,可以选用Atmega8L-16PU。当然,非要让Atmega8L-8PU使用大于8MHz的频率,也可以,属于超频使用,相当于我们电脑的CPU超频,会工作不稳定。
一般制作单片机电路都是得到所要使用的单片机技术说明书,上面明确告知可以使用频率的上限。可以根据这个购买晶振器件。目前市面出现一批性价比很高的单片机可以从0频率一直到几十兆频率的全部适用的品种,这样为设计者提供了极大的设计空间。
用放大镜看晶振标识,比如上面写的8.00000M就是指8M晶振再有就是搭建好最小系统以后给单片机上电,用示波器测试该晶振频率
你写个定时的程序。然后在和现实的时间对照起来。就可以算出晶振的平率了。一般晶振上面写着有是多少的哈
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