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igbt的开通关断时间多少合理,20KH开关电源的开关管IGBT死区时间如何确区

来源:整理 时间:2023-11-17 21:19:23 编辑:亚灵电子网 手机版

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1,20KH开关电源的开关管IGBT死区时间如何确区

第一要看开关电源输出电流,IGBT电流越大,死区时间也要越长, 第二要看IGBT驱动设计,门级关断电阻太大则关断拖尾时间越长,此时死区也要加长, 第三IGBT要选择推荐开关频率15K~30KHz的 一般1200VIGBT,电流几十安培死区最小3uS,考虑效率,死区不宜过大,一般可取5uS。 要根据实验进一步确定 祝成功

20KH开关电源的开关管IGBT死区时间如何确区

2,一般电磁炉的 IGBT 的响应时间大约是多少s

电磁炉工作频率通常在2KHZ左右。算一下就知道了1/2000=0.0005也就是IGBT的Ton-Toff的时间小于500us就够了。常用的IGBT 开关周期都在几us以内。导通速度是几百ns。关断速度速度几百ns。更详细的参数还要看你的IGBT的型号。不同厂家不同封装,型号的都略有差别。

一般电磁炉的 IGBT 的响应时间大约是多少s

3,IGBT从出发开通信号到触发关断信号最低需要多久怎么计算

没看明白这个问题,开通到关段最低需要多久?IGBT从开通到关段的响应时间是很快的,一般几百ns级别到几us,要看IGBT的电压电流等级,小功率IGBT就很快,大功率IGBT就比较慢。这里说的是响应时间。但是这些窄脉冲对IGBT 本身来说是非常有害的,因为半导体器件在导通后极短时间内就进入反向恢复阶段,会产生强烈的di/dt和dv/dt,极大提高IGBT的失效率。
搜一下:IGBT从出发开通信号到触发关断信号最低需要多久?怎么计算?

IGBT从出发开通信号到触发关断信号最低需要多久怎么计算

4,IGBT 关断需要多长时间

IGBT 关断时间是个us级别的数,从几us到几百us不等。有这么大的区别的原因是:1、不同型号的管子支持的开关频率从几百Hz到上百kHz不等,那么管子开通关断时间因此不同。2、工作电流大小也影响开通关断时间,比如工作电流大,那么关断时间会长。3、外围电路的参数对开通关断时间也有影响,比如滤波电抗值大,关断的会慢。4、不同品牌之间有差异。

5,IGBT的栅极电压与管子允许的短路时间是什么关系为什么 问

虽然楼上名叫“落木源电子”,是专业做驱动的公司,但我还是不同意楼上所说。栅极电压越大,开通的越彻底,开通时间也越短,开关损耗也越小,但是短路时的电流也就大,因此允许短路的时间也就越短。反之,栅极电压越小,开通越不彻底,开通时间也越长,开关损耗也越大,但是短路时的电流就越小,因此允许短路的时间也越长。
短路时候的短路电流是由栅极电压决定的,栅极电压越大,短路时电流也越大,电流越大短路能量也越大,每个igbt都有最大耐受能力的。栅极电压越大,短路时间越小
没关系栅极电压是开通和关断的电压一般IGBT短路时间不能超过10u秒
二楼的回答很全面~现在IGBT在多电平中的应用常利用这一点来做短路保护

6,IGBT从出发开通信号到触发关断信号最低需要多久怎么计算

没看明白这个问题,开通到关段最低需要多久?IGBT从开通到关段的响应时间是很快的,一般几百ns级别到几us,要看IGBT的电压电流等级,小功率IGBT就很快,大功率IGBT就比较慢。这里说的是响应时间。但是这些窄脉冲对IGBT 本身来说是非常有害的,因为半导体器件在导通后极短时间内就进入反向恢复阶段,会产生强烈的di/dt和dv/dt,极大提高IGBT的失效率。

7,请教IGBT 死区问题

①②是错误的③是正确的假如是半桥电路上下桥臂开通和关断一定要有死去时间T如果没有,就直通了,烧毁IGBT
IGBT一般采用半桥/全桥应用,通过上下桥臂规律性的开关,对电流进行逆变。为了防止IGBT短路,在上下臂交替开关间会设置一个延时(死区时间),一般都是微妙级别。
igbt死区是指从输出关断信号到igbt真正截止的时间。由于igbt等功率器件都存在一定的结电容,所以会造成器件导通关断的延迟现象。一般在设计电路时已尽量降低该影响,比如尽量提高控制极驱动电压电流,设置结电容释放回路等。为了使igbt工作可靠,避免由于关断延迟效应造成上下桥臂直通,有必要设置死区时间,也就是上下桥臂同时关断时间。死区时间可有效地避免延迟效应所造成的一个桥臂未完全关断,而另一桥臂又处于导通状态,避免直通炸模块。 死区时间大,模块工作更加可靠,但会带来输出波形的失真及降低输出效率。死区时间小,输出波形要好一些,只是会降低可靠性,一般为us级。一般来说死区时间是不可以改变的,只取决于功率元件制作工艺。

8,用IGBT做开关时开关时间跟负载电流大小有关吗

用IGBT做开关时,开关时间跟负载电流大小没有关系。IGBT无法控制电流的大小,IGBT只是一个开关器件,当接于电路中时,用于控制电路的通断时间。IGBT和电感配合在一起实现对电流的控制。以电压源为例,只考虑主电路,电压源、IGBT、电感、负载串联,当IGBT关断时,电源与电感断开,由电感向负载供电,电感中电流不能突变,但是会下降。当IGBT开通时,电源与电感接通,电源向电感和负载供电,电感中电流也不能突变,但是会上升。电感中电流上降和上升的多少,由IGBT关断和开通的时间来确定,也说是IGBT开通和关断的规律决定着电感中电流的变化规律,也说实现了对电流的控制。
如果在这两种电流下IGBT都能工作,关断时间有区别。 当关断信号发出时,由于电路中不能避免的电感作用,电流不会立即降为0,需等到堆集在CE两极的载流子渐渐消失,才能彻底关断。电流越大,流过的载流子就越多,堆集的也就越多,自然关断时间就越长。 虽然有区别,但像IGBT这样的电力电子器件,差别也就是几十至一两百毫秒之间。就是不知这个时间对你而言是长是短。
这要看你驱动的负载是不是感性元件了,如果不是,那只与G有关,如果是的话,那得经过计算,因为感性元件是有感生电动势的,电流越大,感生电动势越强,如果是100A的负载,感生电动势会达到几千伏,必须加入吸收电路,这跟IGBT的特性关系不大
联决于是感性负载还是阻性负载.
IGBT是相当于MOSFET和GTR的连接体,他的开通和关断类似于MOSFET。MOSFET是单极性开关,而GTR是双极性的开关,所以IGBT的关断稍有不同。当栅极电压开始下降时,其两端电压和流过的电流不变,当栅极电压下降到死区电压以下后,IGBT两端的电压开始上升,其中流过的电流开始下降。这个下降的时间是和电流的大小有关系的,电流越大,时间越长。但是IGBT有最大的可关断电流极限,当电流超过某一值,IGBT不再能关断,而发生擎住效应,此时IGBT失控,门极不再起作用,这是IGBT特有的现象。

9,什么是绝缘栅双极型晶体管的开通时间与关断时间

绝缘栅双极型晶体管的开通时间:是指该晶体管的启动时间。  作为开关使用时,为使通态压降UcE低,通常选择为氏E值为10一15v,此情况下通态压降接近饱和值。UGE值影响短路破坏耐量(时间),耐量值为微秒级,UG。值增加,短路破坏耐量(时间)减少。门极电阻R。的取值影响开关时间,RG值大,开关时间增加,单个脉冲的开关损耗增加。但RG值减小时,di/dt增大,可能会导劲GBT误导通。R殖一般取几十欧至几百欧。主要参数Ic为集电极额定最大直流电流;U(BocES为门极短路时的集一射极击穿电压。  绝缘栅双极型晶体管的关断时间:是指该晶体管的关闭时间。  MOSFET关断,PNP管无基极电流流过而截止。如图(。)所示,当IGBT导通时,工作在特性曲线电流上升区域,UGE增大时,UcE值减小。的最大耗散功率;UcE(sat)为集一射极间的饱和压降;IcE(、,为门极短路时集电极最大关断电流;Rth为结壳间的最大热阻;T为最高工作温度。发展表中列出了各代IGBT器件的典型特性参数。IGBT发展非常迅速,正在向高频、高压、大电流以及降低器件的开关损耗和通态损耗方向发展。
检测绝缘栅极双极型晶体管(igbt)好坏的三大方法1、判断极性首先将万用表拨在r×1kω挡,用万用表测量时,若某一极与其它两极阻值为无穷大,调换表笔后该极与其它两极的阻值仍为无穷大,则判断此极为栅极(g)。其余两极再用万用表测量,若测得阻值为无穷大,调换表笔后测量阻值较小。在测量阻值较小的一次中,则判断红表笔接的为集电极(c);黑表笔接的为发射极(e)。 2、判断好坏将万用表拨在r×10kω挡,用黑表笔接igbt的集电极(c),红表笔接igbt的发射极(e),此时万用表的指针在零位。用手指同时触及一下栅极(g)和集电极(c),这时igbt被触发导通,万用表的指针摆向阻值较小的方向,并能站住指示在某一位置。然后再用手指同时触及一下栅极(g)和发射极(e),这时igbt被阻断,万用表的指针回零。此时即可判断igbt是好的。 3、igbt模块任何指针式万用表皆可用于检测igbt。注意判断igbt好坏时,一定要将万用表拨在r×10kω挡,因r×1kω挡以下各档万用表内部电池电压太低,检测好坏时不能使igbt导通,而无法判断igbt的好坏。此方法同样也可以用于检测功率场效应晶体管(p-mosfet)的好坏。更多文章来自北京瑞田达

10,通用变频器的IGBT中的影响因素

IGBT典型失效现象及分析1、温度上升对IGBT参数的影响 温度上升包含两个意思:一是IGBT中的电磁场能量转化为热能,主要由于器件中的电阻热效应;一是器件发热与外部冷却之间的相互作用,发生的热量如果不能及时散发出去,即散发能力不够,则使温度上升。温度上升,IGBT中的两个晶体管的放大系数α1和α2均增大,该两个晶体管构成一个寄生晶闸管。借助于IGBT等效电路图(图3),开通过程为:当给栅极加压Vg,产生Ig,则MOSFET开通,产生I1,I1为PNP的基极电流,开通PNP,产生I2,I2为NPN提供基极电流,产生I3,使整个IGBT全面开通。I1、I2和I3构成IGBT开通后的全部电流,其中I2为主要部分。当温度上升,α1和α2上升,使α1+α2→1,将使寄生晶闸管出现“闭锁效应”,而使IGBT一直导通,即使Vg去掉,I1=0,由于该闭锁效应,PNPN导通,开关失效。因此,温度上升, 增加,使得重复开断的通态电流下降。图4为SKM600GB126D 型IGBT的通态电流IC随温度变化的曲线【5】。从图中可以看到,随温度升高,电流下降,且在800C之后,电流下降非常迅速。图4 IGBT(SKM600GB126D)温度-电流曲线(略) 在一台实际的160kW三电平变频器中,温升试验中发生的IGBT失效现象说明该问题:该变频器所选的IGBT型号为SKM600GB126D,工频下重复可关断电流为600A。该变频器起动后,带满载运行,额定电流为315A。起动稳定后的50分钟运行一切正常,随着运行时间的增加,IGBT壳温从300C上升到1200C,装置发生过流保护。分析其原因:当IGBT壳温达到1200C以后,最大重复可关断电流值发生变化(约为250A),驱动开关发生失效,直流母排中点电压平衡破坏,造成直通过流,器件保护。一般解决该问题的主要措施有: (1)减小器件的发热,选择适当的IGBT参数;(2)加强散热,主要从冷却结构和方式中寻找最优结构和方式;(3)降低开关频率,在开关频率为1k以上,开关损耗超过总损耗的一半;(4)缩短开通和关断时间,也是为了减小开关损耗,但要注意,di/dt和 dv/dt的升高,引起另外的器件失效机理;(5)降低谐波分量。谐波分量不转化为有功,但增加器件内部电阻损耗。2、输入电压升高,开关器件保护,PWM脉冲失效,中点电压平衡破坏 仍以上面的160kW、380V低压三电平变频器为例,其调制采用SVPWM方法,开环VVVF控制,驱动一台160kW的异步电机。当输入电压为300V以下时,起动运行都没有问题,中点电压平衡很好。但输入电压升至350V或者380V时,则电机起动不起来,IGBT发生保护,中点电压偏离,严重时烧坏器件。事实上,当起动电机时,电机速度为零。电机反电势为零,其等效电路图如图5所示。其中R为回路电阻,L1为回路漏电感,Lr为电机电枢电感(可变,与电机反电势相对应),V为电源。Lr为零,而R与L1很小,此时回路电流基本为短路电流,数值很大,且该数值取决于电源电压。输入电源电压越高,则短路电流越大。该大电流使得di/dt、dv/dt均增大,直至超过IGBT的承受值,使得IGBT保护,驱动脉冲失效,打破了中点平衡开关序列规律,而使中点电压发生偏离。从能量的角度来看,此时输出的机械能受阻,输入电磁能在变频器内部吸收,尤其在IGBT内部转化,轻则使得器件保护,重则器件烧坏。此时电磁能与机械能转化不合理,电流中的有功和无功分量不合理。图5 变频调速系统等效电路图(略)有效的解决方法主要包括:(1)增加有效预励磁,减小起动电流,提高启动转矩,使电流有功分量和无功分量分配合理;(2)设定低频启动,延长起动时间,使得di/dt和dv/dt降低;(3)减小v/f补偿值,适当减小占空比,起动力矩也随之有效减小;(4)在母排上加一起动限流器,以减小di/dt,正常运行时再切除掉。3、驱动功率不够,PWM脉冲失效,中点平衡破坏 当驱动电压脉冲Vg没有足够的值,或者即使达到了阈值,但持续的时间太短,其波形如图6所示,导致IGBT不能有效的打开,而使IGBT开关顺序破坏,致使中点电压偏离,最后导致器件过压保护,严重时器件击穿。分析其原因主要有三:(1)驱动电源本身能力不够,驱动电压和尖峰电流都达不到要求,或者其中之一达不到要求,导致驱动电压、电荷不到位;(2)驱动回路延时过大(电阻或电容过大),使驱动电压上升太慢,所需时间大于最小脉宽时间,导致IGBT远没有完全打开就执行关断指令,IGBT没有实现开通;(2)驱动电源质量不好,电压本身有波动,或者受外部dv/dt和di/dt的干扰,导致驱动电压本身变化,而使驱动脉冲失效;(3)驱动输出与IGBT门极连线过长,且没有屏蔽,导致电磁干扰在该传输线上破坏驱动脉冲,致使驱动失效。图6 驱动脉冲序列(略)驱动是一种功率放大的过程,驱动信号将信号流与能量流有机结合。驱动本身亦是一种能量转换过程,一方面驱动本身有一个能量是否足够的问题,另一方面有一个转换时间的问题,同时本身的能源是否可靠也是问题。IGBT是一个驱动MOS场控型器件,控制的关键是沟道反型。开通时要求适当快,沟道足够宽,关断时亦要适当快、关闭严。对于IGBT,关断时电压Vg可到负值,以便深度关断,同时起抗干扰作用。另外,IGBT的导通电阻受栅压调制,可用于IGBT的过电流保护。如测试到一定的过流信号,立刻把驱动电压Vg减小一半,使得IGBT通态电阻增大,抑制电流;当过流消失后,再恢复栅极电压正常值,若持续过大电流,则采取相应保护动作。主要解决措施有:(1)加强驱动功率,实施强驱动,以加快导通区的横向扩大速率和增加初始导通区的面积,前沿要陡,以满足最大驱动电流要求;(2)选择适当的驱动回路的电阻Rs和电容Cs,使其时间常数适中,延时不大于最小脉宽时间,同时又不能太快,以致dv/dt过大;(3)保证驱动电源的质量,稳压稳流,减小电磁干扰影响;(4)利用IGBT的正导作用,有效实施调节Vg的二次导通功能,以达到主动保护效果。4、di/dt与dv/dt过大导致器件失效 160kW三电平变频器中,IGBT开通时和通态时,发现有时di/dt毛刺很大,达到1000A/us,引起IGBT过压而保护,PWM失效,中点电压偏离,变频器不能工作,严重时烧坏管子,另外在关断时发现有时dv/dt毛刺大,引起IGBT误导通。该变频器的di/dt和dv/dt典型试验波形如图7(a)和(b)所示。图7 di/dt和dv/dt试验波形(略)di/dt过大,意味着集电极电流上升很快,它将引起束流效应,即在IGBT中产生实际的局部电流密度过高而发热,致使局部热损坏。dv/dt与结电容CJ构成移位电流,相当于器件的触发信号,引起α增大,在一定条件下产生误触发,致使IGBT失效。di/dt和dv/dt过大本质上都是能量变化太快,如果引导不好,则产生能量过于集中而产生破坏。L和C在电路中都起一个储存能量和缓冲变化的作用,各种缓冲吸收及软开关电路,均为对LC在电路回路中的合理应用。如果回路中L太小,则电流变化快,IGBT导通面积来不及扩展,产生束流效应,致使局部过热损坏;如果回路中C太小,则电压变化快有可能产生浪涌电流而击穿器件。有效的改善di/dt和dv/dt过大的有效措施包括:(1)选择适当的开关频率,使di/dt和dv/dt限制在器件的承受范围内;(2)尽可能选取耐di/dt和dv/dt髙的开关器件;(3)采取强、尖脉冲触发,前沿一定要陡,使初始导通面积尽可能大;(4)大容量使用中,采用限流饱和电抗器和维持脉冲相结合的办法来降低di/dt;(5)外加并联电容,以吸收器件内的移位电流,减小dv/dt;(6)外加RCD电路,以同时降低di/dt和dv/dt;(7)增大驱动电路上的时间常数,减少开通和关断时间,降低di/dt和dv/dt;(8)小容量变频器上可在IGBT集电极套磁环,以减小di/dt。
igbt是变频器的核心器件,作用是将直流变为交流供电机使用。 igbt电路是负责变频器功率输出的部分。 通常包含igbt模块和igbt的触发电路和电流反馈元件。触发电路包含隔离变压器、整流二极管、光耦隔离芯片,根据使用igbt模块型号,有些需使用配套的触发驱动芯片以及保护电路。 igbt: igbt(insulated gate bipolar transistor),绝缘栅双极型晶体管,是由bjt(双极型三极管)和mos(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件, 兼有mosfet的高输入阻抗和gtr的低导通压降两方面的优点。gtr饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大;mosfet驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。igbt综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600v及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。
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